AMETEK料位計(jì)有哪些種類？
美國阿泰克料位計(jì)主要分為兩大類：連續(xù)型和開關(guān)式
連續(xù)型又有超聲波（德國西門子）、導(dǎo)波雷達(dá)（德國VEGA）開關(guān)式則種類較多，阻旋式、音叉式、電容式、重錘式、射頻導(dǎo)納其中阻旋式和音叉式料位計(jì)對使用場合要求較高，不耐沖擊、不能測粘稠物料電容式應(yīng)該說是克服了其他料位計(jì)的缺點(diǎn)，曾經(jīng)是行業(yè)的主流，可惜的是它也有致命的缺陷，就是不能識(shí)別假料，為了克服這個(gè)缺陷，在電容式的基礎(chǔ)上開發(fā)出了射頻導(dǎo)納料位計(jì)。
AMETEK料位計(jì)有哪些種類？工藝特點(diǎn)
由于不同的工業(yè)生產(chǎn)過程的特點(diǎn)不同，所以料位計(jì)需針對不同的工藝條件來確定。為了能夠更明確地分析物位儀表，料位儀表的工作原理、特點(diǎn)和應(yīng)用環(huán)境，必須對物位測量的工藝要求進(jìn)行明確分析。
首先我們來分析液位測量的工藝特點(diǎn)：
1.液面是規(guī)則表面。但當(dāng)液體流進(jìn)、流出時(shí)容易產(chǎn)生波動(dòng)或生產(chǎn)過程中出現(xiàn)起泡、沸騰等變化時(shí)同樣也會(huì)產(chǎn)生波動(dòng)。
2.容器內(nèi)發(fā)生有液體各處密度、黏度或溫度等物理量不均勻的現(xiàn)象。
3.容器內(nèi)發(fā)生有高壓、高溫、液體黏度過大、大量臟污雜質(zhì)、懸浮物等。
固體物料的物理、化學(xué)性質(zhì)較復(fù)雜，如有顆粒狀的、也有粉末狀的，并且有些介質(zhì)為大小不均勻的顆粒；固體物料的含水量變化、溫度等也是不均勻的變化；料倉振動(dòng)、料倉形狀不規(guī)則等。
測量工藝
1.物料自然堆積會(huì)產(chǎn)生堆積傾斜，所以固體物料的料面是不平整的，很難明確料位的準(zhǔn)確高度；物料進(jìn)出時(shí)，存在滯留區(qū)，影響料位zui低位置點(diǎn)的測量。
2.料斗或儲(chǔ)倉中，固體物料內(nèi)部易存在大的孔隙，形成拱橋。粉料內(nèi)部易存在小的間隙。前者影響對物料儲(chǔ)量的計(jì)算，而后者則在振動(dòng)或溫度、壓力變化時(shí)使物位也隨之變化。
界面測量中常出現(xiàn)的問題是界面不明確，渾濁或泡沫的存在會(huì)影響測量結(jié)果。此外，容器內(nèi)攪拌、管道和加熱等設(shè)備的存在也會(huì)對物位檢測帶來一定的影響，特別是像雷達(dá)波、超聲波這些依賴回波信號(hào)測量的物位儀表。
AMETEK料位計(jì)有哪些種類？優(yōu)缺點(diǎn)
常見料位計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)如下：
阻旋式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：較可靠；
局限：不耐用。
電容式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：較耐用；
局限：可靠性較差。
永磁式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：可靠、靈敏、耐用；
局限：安裝時(shí)需垂直。
超聲波物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸。
局限：粉塵影響/凹凸面影響/噪音非接觸式；
料位計(jì)
料位計(jì)
雷達(dá)料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸。
局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響；
推薦：采用高發(fā)射頻率的，四線制的雷達(dá)
導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：對某個(gè)點(diǎn)的測量。
局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響；
激光物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響
射頻導(dǎo)納料位計(jì)（電容式料位計(jì)）
優(yōu)點(diǎn)：點(diǎn)接觸
局限：介電常數(shù)有要求/時(shí)漂/溫漂/掛料/拉力；
推薦：建議采用進(jìn)口的產(chǎn)品
重錘式料位計(jì)：分纜式及帶式兩種
優(yōu)點(diǎn)：直接測量/手動(dòng)控制
局限：傳統(tǒng)的纜式重錘容易發(fā)生斷錘/埋錘/亂繩
推薦：帶式重錘
料位計(jì)
料位計(jì)
射線式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸、穩(wěn)定
局限：有污染/價(jià)格高
稱重式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：可以測量質(zhì)量/體積
局限：抗震問題/物料面狀況不知/價(jià)格高

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